Диссертация

Сафроненков Даниил Алексеевич

Кандидат наук

Статус диссертации

  
Диплом Кандидат наук
  
Решение о выдаче диплома
  
Положительное заключение АК
  
На рассмотрении в АК
  
Положительная защита
15.05.2025 
Объявление опубликовано
12.05.2025 
Принят к защите
07.05.2025 
Заключение комиссии
05.05.2025 
Документы приняты
ФИО соискателя
Сафроненков Даниил Алексеевич
Степень на присвоение
Кандидат наук
Дата и время защиты
18.06.2025 15:00
Место проведения защиты
119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 62, корпус нелинейной оптики, аудитория им. С.А. Ахманова
Научный руководитель
Китаева Галия Хасановна
Доктор наук Доцент
Оппоненты
Халили Фарит Явдатович
Доктор наук Старший научный сотрудник
Молотков Сергей Николаевич
Доктор наук
Семенов Александр Владимирович
Кандидат наук
Место выполнения работы
Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова, Физический факультет, Кафедра квантовой электроники
Специальность
1.3.19. Лазерная физика
физико-математические науки
Диссертационный совет
Телефон совета
+7 495 939-30-92

Диссертационная работа посвящена изучению статистических характеристик бифотонных полей параметрического рассеяния света. Целью диссертационной работы является разработка и применение методов измерения корреляционных параметров бифотонных полей параметрического рассеяния света для калибровки эффективности аналоговых детекторов. Методология диссертационного исследования основана на широко распространённых и проверенных экспериментальных методах лазерной физики, нелинейной и физической оптики, методах цифровой обработки и исследования статистических параметров сигналов детекторов электромагнитного излучения оптического диапазона. В результате проведенного в диссертации исследования разработаны метод измерения корреляционной функции второго порядка с помощью аналоговых детекторов оптического диапазона и экспериментальная схема для реализации метода при частотно-вырожденном параметрическом рассеянии света. Разработан алгоритм для безэталонной калибровки эффективности и абсолютного измерения спектральной чувствительности аналоговых детекторов.