Диссертация

Схема из функциональных элементов реализует булеву функцию. На входах схемы возникают неисправности, которые влияют на аргументы реализуемой функции и могут приводить к тому, что схема начинает реализовывать отличную от исходной функцию. Подавая на входы схемы множество двоичных векторов и анализируя соответствующие значения реализуемой функции, выясняется, была ли неисправность на входах или нет. Такое множество двоичных векторов называется проверяющим тестом. Если же множество двоичных векторов позволяет конкретизировать неисправность, то оно называется диагностическим тестом.Естественным образом возникает задача поиска минимальных тестов для различных источников неисправностей, а также получения оценок функции Шеннона. Функция Шеннона отражает зависимость размера минимального теста самой труднотестируемой булевой функции от числа переменных этой функции.В диссертации получены результаты для константного источника неисправностей и его модификации. Константный источник неисправностей является исторически первым источником, исследуемым в теории тестов. Также в диссертации получены результаты для различных модификаций мультипликативных и сдвиговых неисправностей. Все исследуемые неисправности могут представлять практический интерес при разработке и тестировании микроэлектронных устройств.